Dss Sicherungsdrähtchen nutzt bei einem Thermal Runaway einer Zelle wegen eines internen Kurschlusses gar nichts.
Die sich auf mehre hundert Grad erhitzende Zelle steckt dann bei dichter Packung die Nachbarzellen an, und der ganze Pack geht dann in den Thermal Runaway.
Hier mal das Datenblatt einer Samsung 30Q, die mit 3Ah auf 18650er Bauform schon eher zu den modernen Hochenergiezellen gehört, also nicht das was man verbaut wenn Sicherheit oberste Priorität hätte:
Das für das Thema hier spannende daran sind die detailliert beschriebenen Sicherheitstests am Ende des Dokuments.
https://eu.nkon.nl/sk/k/30q.pdf
Wie man sieht ist es keineswegs einfach eine moderne Rundzelle überhaupt in den thermal runaway zu bekommen (es gibt dazu verschiedene Versuchsaufbauten, am besten klappt das noch bei Einzelzellen mit massiv überladenen Zellen, die man aufheizt und dann mit einem dicken Nagel penetriert. Ob das dann überhaut ein klassischer thermal "runaway" durch Freisetzen von Sauerstoff aus der Kathodenmatrix ist oder nicht doch eine schnöde "Zellhavarie" ist wo einfach alles drüber und drunter geht sei mal dahin gestellt)
Aus dem hot oven Test kann man erkennen, dass die Zellen auch 140°C ohne Feuer überstehen und zwar auf 4,25V überladen, man kann die Einzelzellen extern kurz schließen (Ströme jenseits der 100A), man kann an die einzelne Zelle 20V und 20A Ladestrom anlegen und man kann die massiv mechanisch beschädigen und nichts dramatisches passiert.
Im Normalfall bei einem gut designten Akku ohne nennenswerte Mengen externem brennbaren Material sehe ich wenig, was eine solche moderne Zelle heute in den thermal runaway bringen könnte.
Das einzige wirklich große Risiko ist in meinen(!) Augen ein interner Zellkurzschluss und zwar im Zellverband, wo dann die Schwesterzellen mehrere 100A in den kurz geschlossene Zelle hinein laden.
Genau das lässt sich aber eben nicht durch ein BMS verhindern sondern dadurch, dass man parallele Zellen nicht über dicke Verbindungen ankoppelt. Im Normalbetrieb fließen da ja auch nur winzige Ströme.
Interne Zellkurzschlüsse entstehen bei Rundzellen "von sich aus" idR nur durch Fertigungsfehler und vor allem durch Dendritenwachstum. Wenn ich mich recht entsinne kann das Kupfer sein bei langandauernder Tiefentladung und folgendem Wiederaufladen oder metallisches Lithium, das sich z.B. beim Schnelladen bei kalten Zellen an der Anode abscheiden kann.
Sind Dir Fälle von thermal runaway bei Marken-Rundzellen aus der Produktion der letzten 5 Jahre bekannt?
Hier kann man noch was zu erzwungenen thermal runaway sehen, in diesem Fall mit diversen LFP Und NCA Zellen:
http://prod.sandia.gov/techlib/access-control.cgi/2016/160486.pdf
Hier Consumer LCO vs NMC vs LFP:
http://pubs.rsc.org/en/content/articlehtml/2013/ra/c3ra45748f
Hier viel allgemeines:
http://www.rechargebatteries.org/wp-content/uploads/2013/07/Li-ion-safety-July-9-2013-Recharge-.pdf
Mein Fazit daraus wäre, dass man dort, wo die Bauform nicht eng begrenzt ist am besten Abstandshalter verwendet, die dafür sorgen, dass zwischen den Zellen jeweils ca. 2mm Luft sind. Dann dürfte sich ein durchgehen des Akkupacks idR vermeiden lassen, selbst wenn eine Zelle durchgeht.
Über dicke Zellverbinder (aus Kupfer sind die idR gelötet, mit Hilumin bzw Nickel idR punktgeschweisst, die professionelle Lösung) erfolgt über die Pole ebenfalls eine Wärmeleitung, aber das muss man ja so nicht unbedingt machen.
Auch dazu gibt es reichlich Informationsmaterial, z.B.:
http://jes.ecsdl.org/content/162/9/A1905.full.pdf+html
Und bei allem nicht vergessen: Würde man Bleiakkus so quälen wie man das mit Li-Ionen in den Tests machen dann wären auch die alles andere als ungefährlich.
MfG
